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Infrared Physics & Technology是物理與天體物理領域的一本優秀期刊。由Elsevier出版社出版。該期刊主要發表物理與天體物理領域的原創性研究成果。創刊于1994年，該期刊主要刊載光學-物理及其基礎研究的前瞻性、原始性、首創性研究成果、科技成就和進展。該期刊不僅收錄了該領域的科技成就和進展，更以其深厚的學術積淀和卓越的審稿標準，確保每篇文章都具備高度的學術價值。此外，該刊同時被SCIE數據庫收錄，并被劃分為中科院SCI3區期刊，它始終堅持創新，不斷專注于發布高度有價值的研究成果，不斷推動物理與天體物理領域的進步。
同時，我們注重來稿文章表述的清晰度，以及其與我們的讀者群體和研究領域的相關性。為此，我們期待所有投稿的文章能夠保持簡潔明了、組織有序、表述清晰。該期刊平均審稿速度為平均 約3.0個月 約8.1周。若您對于稿件是否適合該期刊存在疑慮，建議您在提交前主動與期刊主編取得聯系，或咨詢本站的客服老師。我們的客服老師將根據您的研究內容和方向，為您推薦最為合適的期刊，助力您順利投稿，實現學術成果的順利發表。
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 3區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 2區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理 | 3區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 3區 3區 4區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 OPTICS 光學 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 2區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 大類學科 | 分區 | 小類學科 | 分區 | Top期刊 | 綜述期刊 |
| 物理與天體物理 | 2區 | OPTICS 光學 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 儀器儀表 PHYSICS, APPLIED 物理：應用 | 2區 3區 3區 | 否 | 否 |
| 按JIF指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 25 / 76 |
67.8% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q2 | 37 / 119 |
69.3% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 63 / 179 |
65.1% |
| 按JCI指標學科分區 | 收錄子集 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 學科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 24 / 76 |
69.08% |
| 學科：OPTICS | SCIE | Q2 | 43 / 120 |
64.58% |
| 學科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 55 / 179 |
69.55% |
| 學科類別 | 分區 | 排名 | 百分位 |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Condensed Matter Physics | Q2 | 116 / 434 |
73% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q2 | 63 / 224 |
72% |
| 大類：Physics and Astronomy 小類：Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q2 | 83 / 284 |
70% |
| 年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
| 年發文量 | 214 | 249 | 262 | 237 | 336 | 338 | 390 | 370 | 438 | 475 |
| 國家/地區 | 數量 |
| CHINA MAINLAND | 690 |
| India | 61 |
| USA | 58 |
| Iran | 39 |
| England | 32 |
| Poland | 30 |
| Russia | 28 |
| South Korea | 23 |
| Canada | 22 |
| Italy | 19 |
| 機構 | 數量 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 130 |
| HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY | 62 |
| TIANJIN UNIVERSITY | 40 |
| SHANGHAI INSTITUTE OF TECHNICAL PHYSICS, CAS | 33 |
| NANJING UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY | 24 |
| CHANGCHUN UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY | 23 |
| UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOLOGY OF CHINA | 21 |
| BEIHANG UNIVERSITY | 20 |
| HUAZHONG UNIVERSITY OF SCIENCE & TECHNOLOGY | 18 |
| RUSSIAN ACADEMY OF SCIENCES | 18 |
| 文章名稱 | 引用次數 |
| Optical remote sensing image enhancement with weak structure preservation via spatially adaptive gamma correction | 28 |
| Towards a table-top synchrotron based on supercontinuum generation | 19 |
| Robust contact-point detection from pantograph-catenary infrared images by employing horizontal-vertical enhancement operator | 19 |
| Two dimensional materials based photodetectors | 17 |
| An overview of corrosion defect characterization using active infrared thermography | 17 |
| Nondestructive measurement of soluble solids content in apple using near infrared hyperspectral imaging coupled with wavelength selection algorithm | 16 |
| Infrared and visible image fusion with ResNet and zero-phase component analysis | 16 |
| An infrared small target detection method based on multiscale local homogeneity measure | 12 |
| Infrared small target detection based on local intensity and gradient properties | 11 |
| Midwave infrared barrier detector based on Ga-free InAs/InAsSb type-II superlattice grown by molecular beam epitaxy on Si substrate | 11 |
SCIE
影響因子 4.2
CiteScore 1.5
SCIE
影響因子 0.9
CiteScore 1.6
SCIE
影響因子 1.8
CiteScore 3.1
SCIE
影響因子 2.7
CiteScore 6.9
SCIE
影響因子 0.5
CiteScore 1.4
SCIE
CiteScore 4
SCIE
影響因子 4.8
CiteScore 6.7
SCIE
CiteScore 2.8
SCIE
影響因子 0.7
CiteScore 1.4
SCIE
影響因子 1.3
CiteScore 2.7
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